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如何更准确测试晶振的电阻及频率

来源：http://konuaer.net 作者：konuaer 2014年09月02

大伙都知道石英晶振制成的晶体振荡器其频率稳定性很高，问题就在这？然而我们要如何确定晶振的频率或判断晶振是否合格、这当然就要通过一系列的检测和筛选了，从众多的晶振中挑选出合格的晶体频率。给大家介绍一种更准确贴片晶体频率测试方法，其校频电路简单适用，无论用来挑选晶体或检查晶体的好坏、或校频等均可使用。

对晶振的负载谐振频率进行测量其实有很多种方法，那么直接阻抗法就是其中一种，它使用网络分析仪，比物理负载电容法等其它方法更加准确、方便并且成本更低。本文介绍如何使用直接阻抗法进行测量并通过实测数据说明它好于其它测量方法的原因。

在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，问题主要在于负载谐振频率(FL)的测量，特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高，因此技术人员又开发了几种负载谐振频率测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。我们下面先对各种方法作一比较。

负载谐振频率测量法，如果已经知道被测器件是一个线性晶振，则可以使用这个方法来测量；但在大多数场合下，需要先有一个测试方法来告诉你它是否是线性的，所以计算法不实用，除非你在测试前已经知道晶振是线性的。

那么晶振的线性度究竟有什么影响呢？从电路应用观点来看，只要晶振有一稳定(可重复)明确的阻抗-频率曲线，并且在振荡器中功能正常，它就是一个好晶振，是不是线性没有关系，非线性晶振并不意味着是一个坏晶振。

而晶振设计人员则认为，市场趋势是向小型化方向发展，如AT带状晶振和SMD晶振，与大的圆形晶振不同，小型晶振采用矩形坯料，此时再应用四器件模型比较困难。不过测量有问题并不表示它是一个坏晶振，只不过还需要一些能够在不涉及非线性条件更精确测量晶振的测试方法或系统，以提供更多信息，如寄生模式在不同温度下对晶振性能的影响情况等。

从晶振测量角度来看，计算法不适用于测试非线性晶振，因为测量精确度取决于晶振特性，而它的差异很大，如果存在其它适用的测试手段就应该放弃使用这种方法。

以上就是康华尔电子为大家作出的晶振测试方法，在这方面我们有着很丰富的经验和见解，然而我公司也是一个很专业的晶振生产厂家，专门的石英晶体振荡器顾问，如果你遇到什么晶振上面的问题，可以和我司联系，我司将会请最专业的晶振专家为你解答。

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